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产品介绍
由于振动或空气湍流干扰, 进行大量光学器件测试或复杂的光学系统的精确度干涉测量是很困难的。使用所谓的"实时" 相位测量干涉仪经常是碰运气或不成功的。4D Technology的PhaseCam系列是进行大量光学器件测试或复杂的光学系统的精确度干涉测量的完善的解决方法。进行干涉测量的器件可分别安装在较远并且无防震功能的光学平台, PhaseCam也可以容易得到高质量的测量, 这归功于PhaseCam的快速测量能力使它很容易降低空气湍流产生的影响, 更大量降低了测试周期, 提高生产率。让您不须再因为环境的影响而牺牲了准确度。
规格参数
PhaseCam NIR系统可进行精确的表面和波前测量，结构紧凑，重量轻，近红外波长（1.053，1.064和1.3微米1:55）。
沪公网安备31011302006898号
