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MProbe 20是一种用于全球数千个应用的薄膜厚度测量台式系统。它只需单击鼠标即可测量薄膜厚度和折射率。可以快速可靠地测量1nm至1mm的厚度，包括多层膜堆叠。不同的MProbe 20模型主要通过光谱仪的波长范围和分辨率来区分，这反过来决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。该测量技术基于光谱反射——快速、可靠且无损。

• 灵活：模块化薄膜厚度测量系统：为您的应用选择更好配置，并在需要时轻松升级
• 精度：<0.01nm或0.01%
• 材料：500+扩展材料数据库
• 软件：用户友好且功能丰富的TFCompanion软件甚至可以处理复杂的应用程序。层数无限制，支持背面反射率、表面粗糙度、暗度等。
• 集成：轻松集成TCP服务器
• 实时、一键测量和分析
• 测量历史：调用/显示测量结果和统计数据

产地：美国

精度：＜0.01nm或0.01%（在200nm氧化物上进行100次测量的s.d.）

<1nm或0.2%（依赖于胶片堆栈）

稳定性：＜0.02nm或0.2%（20天，每天测量）

测量厚度：1nm至1mm

光斑尺寸：<1mm

样品尺寸：>=10mm

主机：包括光谱仪、光源、光控制器微处理器

样品台：SH200A

探头：光纤反射

测试样品：200nm氧化硅或PET薄膜

电缆：USB或LAN

电源适配器：24VDC

电压：110/220V