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RIFTEK胶带几何测量自动化系统RF089

产品介绍

光学千分尺用于控制带的几何参数。

操作基于所谓的“影子”原则。千分尺由两部分组成——发射器和接收器。半导体激光器或 LED的辐射由透镜直。将胶带放置在准直光束区域,用 CCD 光电探测器阵列扫描形成的阴影图像。处理器计算出光的位置(大小) 磁带从阴影边界(边界)的位置。

胶带厚度计算为胶带和轴的阴影边界位置之间的差异。轴的阴影边界位置由独立的千分尺控制。

该系统包含一组 6 个光学千分尺用于同时控制胶带宽度和一组 9 微米,其中 6 个用于同时控制胶带厚度和3 个(辅助千分尺) - 用于控制轴表面位置。所有千分尺在交换中心通过RS485接口联网,交换中心还包括整个系统的电源。该系统包含设计用于数据处理、指示测量结果和数据存储的控制器 (PDA)。

性能特点

该系统旨在控制胶带的几何参数(宽度和厚度)和温度,特别是在制造过程中的打包带。

该系统已应用于批量生产。生产线上安装。

可以针对特定任务更改系统的技术特性。

技术参数

产品尺寸

规格参数

产品应用


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